|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
The New Features of X-ray Triple Crystal Diffractometry for Characterization of Microscale Surface and Interface Roughness of Single Crystal. доклад на конференции
- Автор: Бушуев В.А., Ломов А.А.
- Конференция : Abstr. 4th European Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Topography (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P3.45.
- Даты проведения конференции: 1998
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Durham, U.K.
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич