|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Определение толщины сверхтонких аморфных пленок по данным зеркального отражения рентгеновских лучей в условиях некомпланарной дифракциидоклад на конференции
- Авторы: Имамов Р.М., Орешко А.П., Бушуев В.А., Мухамеджанов Э.Х.
- Конференция : Сборник докладов рабочего совещания “Рентгеновская оптика-2001” (Нижний Новгород, 19-22 февраля 2001г.). С. 204-210.
- Даты проведения конференции: 2001
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Нижний Новгород, ИФМ РАН
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич