|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Characterization of porous GaAs layers by X-ray reflectometry. доклад на конференции
- Авторы: Lomov A.A., Бушуев В.А., Dravin V., Сутырин А.Г., Караванский В.А.
- Международная Конференция : Third International Conference Porous Semicondactors Science and Tnechnology (Tenerif, Spain, 10-15 March 2002), P. 197-198.
- Даты проведения конференции: 2002
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Tenerif, Spain, Spain
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич