![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Методами атомно-силовой и сканирующей электронной микроскопии, а также спектроскопии комбинационного рассеяния света были исследованы тонкие аморфные пленки Ge2Sb2Te5, облученные фемтосекундными лазерными импульсами. Обнаружено, что в результате такого воздействия в объеме пленок возникают фазовые изменения, а также формируются периодические структуры на поверхности.