![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Даны оценки возможности применения Ti:Sa лазерной системы МЛЦ МГУ для изучения одиночных сбоев в микросхемах.