ИСТИНА

В докладе рассматриваются вопросы параметризации малофотонных источников света. Данный вопрос относится к новому направлению исследований в квантовой оптике – разработке методов характеризации оптических компонент и устройств, применяемых в оптических квантовых технологиях, которые предполагаются к использованию в промышленности. Кратко представлены результаты работ, ведущихся настоящее время совместно с ФГУП ВНИИОФИ и НИЯУ МИФИ в лаборатории экспериментальной квантовой оптики и нанофотоники МЛЦ МГУ им. М.В. Ломоносова по разработке методов характеризации малофотонных источников света с целью наработки базовых методик, которые могут быть положены в основу будущих метрологических стандартов квантовых оптических технологий