Scanning probe microscopy for in-situ analysis of carbon films growth by chemical vapor depositionдоклад на конференции

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Краткий текст Abstract Nanocarbon_for_Optics_and_Electronics_Loginov_Abstract.docx 32,1 КБ 23 августа 2016 [Логинов А.Б.]