|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Scanning probe microscopy for in-situ analysis of carbon films growth by chemical vapor depositionдоклад на конференции
- Авторы: Rinat Ismagilov, Artem Loginov
- Международная Конференция (Семинар (workshop)) : NANOCARBON for OPTICS and ELECTRONICS
- Даты проведения конференции: 24-29 июля 2016
- Дата доклада: 26 июля 2016
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Калининград, Russia
- Добавил в систему: Исмагилов Ринат Рамилович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Краткий текст | Abstract | Nanocarbon_for_Optics_and_Electronics_Loginov_Abstract.docx | 32,1 КБ | 23 августа 2016 [Artem_Loginov] |