![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
В работе определены зависимости смещения точки нематического перехода (по отношению к точке перехода в свободном объеме) и ширины области гистерезиса от толщины слоя. Определены характеристики обнаруженного перехода от двуосной к одноосной симметрии упорядоченного состояния вблизи поверхностей. Детально изучены профили плотности и параметров порядка в слое. Построена фазовая диаграмма в переменных «плотность – толщина слоя».