|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Improving the reliability of identification of single crystals structure defects.доклад на конференции
- Авторы: Tkal V.A., Bushuev V.A.
- Международная Конференция : 6th International Conference on “Electron, Positron, Neutron and X-ray Scattering under External Influences”
- Даты проведения конференции: 21-26 октября 2019
- Дата доклада: 22 октября 2019
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Tkal V.A.
- Место проведения: Ереван, Armenia
- Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич