Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Effect of ion irradiation and annealing on quantitative composition of SiO2-based memristive structeres
доклад на конференции
Авторы:
Okulich E.V.
,
Vorobyov V.L.
,
Tetelbaum D.I.
,
Chigirinsky Yu I.
,
Dudin Yu A.
,
Bayankin V.Ya
Всероссийская с международным участием Конференция :
// IV International Conference on «Modern problems in physics of surfaces and nanostructures»
Даты проведения конференции:
26-29 августа 2019
Дата доклада:
27 августа 2019
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Okulich E.V.
Vorobyov V.L.
Tetelbaum D.I.
Chigirinsky Yu I.
Dudin Yu A.
Bayankin V.Ya
Место проведения:
г. Ярославль, Russia
Добавил в систему:
Воробьёв Василий Леонидович