Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Методика рентгеноэлектронного анализа атомной структуры тонких слоев силикатных стекол
доклад на конференции
Автор:
Канунникова О.М.
Международная Конференция :
Межд. научно-технич.конф. Микро- и нанотехнологии в электронике
Даты проведения конференции:
21-27 сентября 2009
Дата доклада:
26 сентября 2009
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Канунникова О.М.
Место проведения:
Нальчик, Russia
Добавил в систему:
Канунникова Ольга Михайловна