|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Extremal projector method for Lie symmetries and its applications (review). Part I - IIдоклад на конференции
- Автор: Толстой В.Н.
- Международная Конференция : International Workshop on Integrable Systems and Their New Developments
- Даты проведения конференции: 2009
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: Толстой В.Н.
- Место проведения: Chern Institute of Mathematics, Tianjin, China, China
- Добавил в систему: Толстой Валерий Николаевич