Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Interferometric sensing of bacteria located on a double etched porous silicon layer
доклад на конференции
Авторы:
Gongalsky M.B.
,
Osminkina L.A.
,
Agafilushkina S.N.
,
Koval A.A.
Международная Конференция :
European Materials Research Society Spring Meeting 2019
Даты проведения конференции:
27-31 мая 2019
Дата доклада:
29 мая 2019
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
не указан
не указан
Gongalsky M.B.
Osminkina L.A.
Agafilushkina S.N.
Koval A.A.
Место проведения:
Ницца, France
Добавил в систему:
Осминкина Любовь Андреевна