ИСТИНА

Метод нанокалориметрии на чипе позволяет проводить калориметрические измерения (DC и AC) со скоростями нагрева и охлаждения ≥100000 [1]. Однако естественное охлаждение образца в данном методе возможно только до комнатной температуры. Известно, что процессы структурообразования во многих частично-кристаллических полимерах протекают при температурах ниже комнатной, что связано с их низкой температурой стеклования. Соответственно, для наблюдения этих процессов с использованием сверхбыстрой калориметрии на чипе недостаточно термостатирования чипа при комнатной температуре, а требуется его охлаждение на более низкие температуры. Помимо собственно проведения наблюдений структурообразования при низких температурах разработка такого низкотемпературного термостата позволит также зафиксировать текущую структуру образца закаливанием для дальнейшего его анализа дополнительными физико-химическими методами, такими как, например, рентгеновская дифракция.