|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Radiation-induced defects in silicon nanomaterialsдоклад на конференции
- Авторы: Evseev A.P., Kozhemiako A.V., Chernysh V.S., Shemukhin A.A., Balakshin Yu V.
- Международная Конференция : 24th International Conference on Ion-Surface Interactions (ISI-2019)
- Даты проведения конференции: 19-23 августа 2019
- Дата доклада: 20 августа 2019
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Москва, Russia
- Добавил в систему: Евсеев Александр Павлович