Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
О ключевой проблеме обеспечения качества серийных изделий на примере микроэлектронного производства
доклад на конференции
Автор:
Бетелин В.Б.
Всероссийская Конференция :
Научно-техническая конференция «Научно-технические проблемы обеспечения надежности образцов вооружения, военной и специальной техники и пути их решения»
Даты проведения конференции:
30 мая 2018
Дата доклада:
30 мая 2018
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Бетелин В.Б.
Место проведения:
Russia
Добавил в систему:
Стамов Любен Иванович