ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
В данной работе исследуются слои кремниевых наноструктур, полученных на шлифованных подложках кремния. Обнаружено усиление сигнала КРС по сравнению с кристаллической подложкой. Обнаружено, что слои por-Si испытывают сильный локальный нагрев при облучении возбуждающим лазерным излучением, о чем свидетельствуют данные КРС.