|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Analysis of Microcrystal Silicon Grain Structure in a Smectic-Type Matrix Based on the Small-Angle X-Ray Scattering Measurements.доклад на конференции
- Авторы: Sharkov M.D., Boiko M.E., Konnikov S.G., Boiko A.M., Bobyl A.V.
- Международная Конференция (Семинар (workshop)) : • DATIS/ENPI Seminar at LUT-Physics.Finland, Lappeenranta, LUT,
- Даты проведения конференции: 8-10 декабря 2014
- Дата доклада: 9 декабря 2014
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Lappeenranta, LUT, Finland
- Добавил в систему: Бойко Михаил Евгеньевич