ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Рассмотрен случай применения гибридной схемы метода дискретных источников (МДИ) для анализа рассеивающих свойств сильно вытянутых наночастиц, расположенных на подложке. Представлено численное сравнение диаграмм рассеяния с классической схемой МДИ, подтверждающее достоверность полученных результатов.