ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Научно-практическая конференция о международном патентовании проводится под эгидой международной общественной организации «СОВЕТ ЕВРАЗИЙСКИХ ПАТЕНТНЫХ ПОВЕРЕННЫХ»,