|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
7th International Conference High-Resolution Depth ProfilingКонференция
- Охват: Международная
- Даты проведения: 2013
- Место проведения: Singapore, Singapore
- Число участников: 380
- Число докладчиков: 200
-
Описание конференции:
7th International Conference High-Resolution Depth Profiling
- Добавил в систему: Гайнуллин Иван Камилевич