Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
SPIE Optical Metrology (EOM17)
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
25-29 июня 2017
Место проведения:
Internationales Congress Center, Munich, Germany
Организатор:
SPIE
Число участников:
1000
Веб-сайт:
https://spie.org/conferences-and-exhibitions/optical-metrology
Добавил в систему:
Смирнов Александр Михайлович
Доклады:
2017
Modeling of nondestructive method for doped semiconductor layer diagnostics and experimental realization in a colloidal quantum dots
(Стендовый)
Авторы:
Smirnov A.M.
,
Dneprovskii V.S.
,
Boriskin A.G.