ИСТИНА

• Охват: Международная
• Даты проведения: 17-20 декабря 2019
• Место проведения: Xiamen, China
• Организатор:
  Swiss Grand Xiamen
• Добавил в систему: Булатов Марат Фатыхович

Доклады:

• 2019 Defocused Ion Beam Etching of the Silicon Probes for High Resolution Atomic-force Microscopy (Устный)
• Авторы: Krasnoborodko S.Y., Vysokikh Y.E., Bulatov M.F., Churikov D.V., Smagulova S.A., Shevyakov V.I.

• 2019 High Resolution Magneto-optical Microscopy of Bi:YIG-thin Films with Both Domains and Topography Characterization (Устный)
• Авторы: Vysokikh Y.E., Krasnoborodko S.Y., Bulatov M.F., Churikov D.V., Mikhailova T.V., Shaposhnikov A.N.

• 2019 Output Power of the Carbon Nanotube-based Rectenna (Устный)
• Авторы: Gabrielyan D., Safina O., Churikov D., Kravchenko O., Safin A., Bulatov M.