Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
20-th International Conference on Ion Beam Analysis
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
2011
Место проведения:
Itapema, SC – Brazil, Brazil
Все конференции этой группы
Добавил в систему:
Юрасова Вера Евгеньевна
Доклады:
2011
Features of energy dependence of NiPd sputtering for different ion irradiation angles, abstact for
(Устный)
Авторы:
Bachurin V.I.
,
Yurasova V.E.
,
Тolpin К.А.