Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Abstr. 2nd European Symp.X-ray Topogr and High Resolution Diffraction (Berlin, Germany, 1994), P. 143.
конференция
Даты проведения:
1994
Место проведения:
Berlin, Germany, Germany
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич
Доклады:
1994
The influence of X-ray diffuse scattering on the secondary processes yield.
Автор:
Бушуев В.А.
1994
X-ray high-resolution diffractometry investigation of sulphur implanted and pulse laser annealed InSb(111) substrates.
Автор:
Бушуев В.А.
, Ломов А.А.