Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography (XTOP-2000), Ustron-Jaszowiec, Poland, 13-15 September 2000, P. 65.
Конференция
Даты проведения:
2000
Место проведения:
Ustron-Jaszowiec, Poland, Польша
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич
Доклады:
2000
High resolution X-ray reflectometry study of thin porous films
Авторы:
Lomov A.A.
,
Сутырин А.Г.
,
Бушуев В.А.
2000
The problem of the phase retrieval in X-ray phase dispersion images method and in in-line holography scheme
Авторы:
Сергеев А.А.
,
Бушуев В.А.
2000
Unusual sharp asymmetrical X-ray Bragg scattering in near perfect GaSb crystal
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Lomov A.A.
,
Nishinaga T.
,
Voloshin A.
2000
X-ray specular reflection under extremely asymmetric diffraction conditions on crystals with thin amorphous surface film
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Орешко А.П.