|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.), С. 103-106.конференция
- Даты проведения: 2008
- Место проведения: Великий Новгород, Россия, Russia
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич