Материалы V международного научного семинара "Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) и актуальные проблемы рентгеновской оптики” (Великий Новгород, 12-16 сентября 2011 г.), С. 54-56.конференция



Доклады: