Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
15Th European Microscopy Congress (EMC 2012)
Конгресс
Охват:
Международная
Даты проведения:
16-21 сентября 2012
Место проведения:
Манчестер, United Kingdom
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович
Доклады:
2012
The angular dependences of average energy of backscattered electrons and optimal configuration of BSE detectors in SEM
(Устный)
Авторы:
Rau E.I.
,
Zaitsev S.V.
,
Ditsman S.A.
,
Orlikovskiy N.A.
2012
The modified electron spectrometer for microtomography and spectroscopy in SEM
(Устный)
Авторы:
Rau E.I.
,
Orlikovskiy N.A.
,
Gostev A.V.
2012
The reason of distinction of experimental values of dielectrics electron-beam charging times
(Стендовый)
Авторы:
Рау Э.И.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Татаринцев А.А.
2012
The reasons of distinctions of experimental values of dielectrics electron-beam charging times
(Устный)
Авторы:
Rau E.I.
,
Tatarintsev A.A.
,
Evstafeva E.N.