ИСТИНА

• Охват: Всероссийская с международным участием
• Даты проведения: 12-18 марта 2018
• Место проведения: Санкт-Петербург, Russia
• Добавил в систему: Щедрин Борис Михайлович

Доклады:

• 2018 Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок для выявления пространственных особенностей электронной плотности. (Стендовый)
• Авторы: Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.