2008 IEEE International Electron Devices Meetingсборник
Статьи, опубликованные в сборнике
-
-
2008
High immunity to threshold voltage variability in undoped ultra-thin FDSOI MOSFETs and its physical understanding
-
Weber O.,
Faynot O.,
Andrieu F.,
Buj-Dufournet C.,
Allain F.,
Scheiblin P.,
Foucher J.,
Daval N.,
Lafond D.,
Tosti L.,
Brevard L.,
Rozeau O.,
Fenouillet-Beranger C.,
Marin M.,
Boeuf F.,
Delprat D.,
Bourdelle K.,
Nguyen B.Y.,
Deleonibus S.
-
в сборнике 2008 IEEE International Electron Devices Meeting, место издания IEEE
DOI