INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING, OPTICS, AND SEMICONDUCTORSсборник

Статьи, опубликованные в сборнике Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam