|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
The Second International Conference on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO-II)сборник
- Год издания: 1993
- Место издания: Moscow
- Сборник тезисов
- Добавил в систему: Лапшин Ростислав Владимирович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 1993 Hysteresis compensation model for STM scanning unit
- Lapshin R.V.
- в сборнике The Second International Conference on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO-II), место издания Moscow, тезисы