Probe microscopy- Inst.Microstr.Phys., Proceedings Int. Conf., Nizhnij Novgorod, 21-25 March 2002сборник

Статьи, опубликованные в сборнике Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam