Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
-
сборник
Год издания:
2012
Том:
8700
Добавил в систему:
Руденко Константин Васильевич
Статьи, опубликованные в сборнике
2012
Instrumented wafer as a Langmuir multiprobe tool for lateral plasma homogeneity measurements in processing plasma reactors
Miakonkikh A.
, Lisovsky S., Rudenko M.,
Rudenko K.
в сборнике
-
, том 8700
DOI