Материалы Х симпозиума с международным участием «Новые возможности инструментальной диагностики» Москва 19-20 февралясборник

Статьи, опубликованные в сборнике Экспорт в BibTeX стиль:  обычный | ГОСТ | plain | abbrv | acm | alpha | amsalpha | amsplain | apalike | ieeetr | siam