|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Proceedings of SPIE, Volume 11022сборник
- Год издания: 2019
- Серия: International Conference on Micro- and Nano-Electronics
- Том: 11022
- Место издания: SPIE USA
- Добавил в систему: Ожигов Юрий Игоревич