X-Ray Lasers 2016сборник
Статьи, опубликованные в сборнике
-
-
2018
In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detector
-
Pikuz T.,
Faenov A.,
Matsuoka T.,
Albertazzi B.,
Ozaki N.,
Hartely N.,
Muray Ricardo Arturo O.,
Yabuuchi T.,
Habara H.,
Matsuyama S.,
Yamauchi K.,
Inubushi Y.,
Togashi T.,
Yumoto H.,
Tange Y.,
Tono K.,
Sato Y.,
Yabashi M.,
Nishikino M.,
Kawachi T.,
Mitrofanov A.,
Bleiner D.,
Grum-Grzhimailo A.,
Rosanov N.N.,
Vysotina N.V.,
Harmand M.,
Koenig M.,
Tanaka K.A.,
Ishikawa T.,
Kodama R.
-
в сборнике X-Ray Lasers 2016, серия Springer Proceedings in Physics, место издания Springer International Publishing, том 202, с. 109-115
DOI