![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Программа представляет собой приложение с консольным интерфейсом, позволяющее производить анализ картин дифракции электронов поликристаллических материалов, полученных на различных просвечивающих электронных микроскопах. Возможно проведение как быстрого, так и точного анализа с последующим извлечением получаемых графических и числовых данных. Тип ЭВМ Linux, Windows 10/8/7.