Method of synthesis of easily testable circuits admitting single fault detection tests of constant lengthстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
Аннотация:It is constructively proved that any nonconstant Boolean function may be realized (over an arbitrary complete basis of gates) by a testable combinational circuit admitting (under single inverse or arbitrary constant faults at outputs of gates) a single fault detection test set whose cardinality does not exceed 4.