|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Effects of interface roughness on the spectral properties of thin films and multilayersстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K., Tikhonravov A.A., Duparre A.
- Журнал: Applied optics
- Том: 42
- Номер: 25
- Год издания: 2003
- Издательство: Optical Society of America
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 5140
- Последняя страница: 5148
- DOI: 10.1364/AO.42.005140
- Аннотация: We introduce two parameters, large-scale and small-scale rms roughness, to take into account the interface properties of thin films and multilayers in the calculation of their specular reflectance and transmittance. A theoretical motivation for the introduction of these two parameters instead of a standard single rms roughness is provided. Experimental power spectral density functions of several samples are used to illustrate ways in which the parameters introduced can be evaluated. (C) 2003 Optical Society of America.
- Добавил в систему: Тихонравов Александр Владимирович