FMR line width and exchange bias in F/AF structures as correlated with AF-film thickness and surface roughness

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

FMR line width and exchange bias in F/AF structures as correlated with AF-film thickness and surface roughnessтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Авторы: Shanova E.I., Dzhun I.O., Chechenin N.G.
Сборник: Book of Abstract of Joint European Magnetic Symposia (JEMS-2013), 25-30 August 2013, Rhodes, Greece, p. 254
Тезисы
Год издания: 2013
Место издания: JEMS-2013 Rhodes, Greece
Первая страница: 331
Последняя страница: 331
Добавил в систему: Чеченин Николай Гаврилович