New reference material for transmission electron microscope calibrationстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
-
Авторы:
Filippov M.N.,
Gavrilenko V.P.,
Kovalchuk M.V.,
Mityukhlyaev V.B.,
Rakov A.V.,
Todua P.A.,
Vasiliev A.L.
-
Сборник:
INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING, OPTICS, AND SEMICONDUCTORS
-
Серия:
VI. PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
-
Том:
8466
-
Год издания:
2012
-
Первая страница:
84660
-
Последняя страница:
84660
-
Добавил в систему:
Ковальчук Михаил Валентинович