|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Физические основы нового поколения диагностики – многопараметрической кристаллографии дефектов в материалах и изделиях нанотехнологий, в частности, в кристаллах кремниястатья
- Авторы: Шпак А.П., Ковальчук М.В., Молодкин В.Б., Кашкаров П.К., Бушуев В.А., Хапачев Ю.П., Дышеков А.А., Ташилов А.С., Лизунова С.В., Лизунов В.В., Низкова А.И., Кютт Р.Н., Носик В.Л., Лень Е.Г., Молодкин В.В., Карнаухов И.М.
- Журнал: Актуальные вопросы современного естествознания
- Номер: 8
- Год издания: 2011
- Издательство: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова»
- Местоположение издательства: Нальчик
- Добавил в систему: Ковальчук Михаил Валентинович