Физические основы нового поколения диагностики – многопараметрической кристаллографии дефектов в материалах и изделиях нанотехнологий, в частности, в кристаллах кремниястатья
Авторы:
Шпак А.П. ,
Ковальчук М.В. ,
Молодкин В.Б. ,
Кашкаров П.К. ,
Бушуев В.А. ,
Хапачев Ю.П. ,
Дышеков А.А. ,
Ташилов А.С. ,
Лизунова С.В. ,
Лизунов В.В. ,
Низкова А.И. ,
Кютт Р.Н. ,
Носик В.Л. ,
Лень Е.Г. ,
Молодкин В.В. ,
Карнаухов И.М.
Журнал:
Актуальные вопросы современного естествознания
Номер:
8
Год издания:
2011
Издательство:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова»
Местоположение издательства:
Нальчик
Добавил в систему:
Ковальчук Михаил Валентинович