Аннотация:Методами ИК спектроскопии и сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) исследована морфология высокопористых пленок на основе полиэтилена высокой плотности (ПЭВП) с различным диаметром пор. С помощью метода СЭМ построены гистограммы распределения пор по размерам. Аналогичные гистограммы получены с помощью метода ИК спектроскопии. Установлено хорошее согласие между данными двух независимых методов, что подтверждает возможность использования метода ИК спектроскопии для характеристики наличия и размеров пор в микронном диапазоне для полимерного образца.
