Single-crystal diamond probes for atomic-force microscopyстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.

Работа с статьей


[1] Single-crystal diamond probes for atomic-force microscopy / P. G. Kopylov, B. A. Loginov, R. R. Ismagilov, A. N. Obraztsov // Instruments and Experimental Techniques. — 2010. — Vol. 53, no. 4. — P. 613–619. The results of investigations aimed at the development and testing of diamond probes for scanning atomic-force microscopy are presented. Plasmochemical deposition of diamond polycrystalline films and selective thermal oxidation were used to manufacture diamond probes. The obtained single-crystal diamond pyramidal tips of micron size had a radius of curvature of 2-20 nm at the top. The diamond tips were attached to a cantilever with an epoxy adhesive and then tested as probes in scanning atomic-force microscopy. Tests have shown that the manufactured diamond probes have appreciable advantages over conventional probes. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть