|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Расчет поверхностной шероховатости атомистических кластеров тонких пленок с характерным размером десятки нанометровстатья
- Авторы: Григорьев Ф.В., Сулимов В.Б., Тихонравов А.В.
- Журнал: Вычислительные методы и программирование
- Том: 17
- Номер: 4
- Год издания: 2016
- Издательство: Научно-исследовательский вычислительный центр Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 455
- Последняя страница: 459
- Добавил в систему: Кондакова Ольга Анатольевна