Resonant Diffraction of Synchrotron Radiation: New Possibilitiesстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 30 декабря 2016 г.
Аннотация:Резонансная дифракция синхротронного излучения (СИ) является современным методом исследо-вания структуры и свойств конденсированных сред, реaлизация которого возможна на синхротро-нах третьего поколения. Этот метод позволяет изучать локальные свойства сред, в том числе маг-нитные, электронные, наблюдать тепловые колебания, дефекты, орбитальное и зарядовое упорядо-чение. Приведен краткий обзор достижений, полученных с помощью резонансной дифракции СИ,а также более подробно рассмотрены возможности метода для исследования фазовых переходов напримере кристаллов дигидрофосфата калия и дигидрофосфата рубидия. Показано, что изучениетемпературной зависимости запрещенных отражений позволяет не только наблюдать переход изпара- в сегнетоэлектрическую фазу, но и получать информацию о распределении протонов на во-дородных связях.