|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Investigation of the Atomic, Crystal, and Domain Structures of Materials Based on X-ray Diffraction and Absorption Data: A Reviewстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 января 2016 г.
- Авторы: Boiko M.E., Sharkov M.D., Boiko A.M., Konnikov S.G., Bobyl’ A.V., Budkina N.S.
- Журнал: Technical Physics
- Том: 60
- Номер: 11
- Год издания: 2015
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 1575
- Последняя страница: 1600
- DOI: 10.1134/S1063784215110067
- Аннотация: Ways to gain and analyze experimental data obtained by X-ray techniques used in material examination are described. Emphasis is on the methods of extended X-ray absorption fine structure, X-ray diffraction, and X-ray small-angle scattering.
- Добавил в систему: Бойко Михаил Евгеньевич