|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
К вопросу о роли пика брэгга при оценке воздействия поля ионизирующих частиц на микроэлектронику космических аппаратовстатья
- Авторы: Анохин М.В., Галкин В.И., Дитлов В.А., Дубов А.Е., Калегаев В.В., Королёв А.Г., Кузнецов Н.В., Макарычев С.В., Панасюк М.И., Попов В.Д., Чабанов В.М., Шилло А.Г.
- Сборник: Стойкость 2015
- Серия: РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
- Год издания: 2015
- Первая страница: 27
- Последняя страница: 29
- Добавил в систему: Галкин Владимир Игоревич